N7900 SERIE DE FUENTES DE ALIMENTACIÓN AVANZADAS

La serie Keysight Advanced Power System (APS) N7900 es una fuente de alimentación versátil y completa, diseñada específicamente para aplicaciones de pruebas automatizadas (ATE) que requieren mediciones y suministros dinámicos de alta velocidad. Este sistema altamente integrado optimiza el rendimiento de su plataforma de prueba con precisión y velocidad líderes en la industria.

El N7900 incorpora todas las capacidades del N6900, pero va más allá al ofrecer potencia de salida dinámica, mediciones rápidas y una mayor precisión. Mientras que las funcionalidades avanzadas son opciones en el N6900, en el N7900 vienen como estándar.

Características destacadas:

• Precisión mejorada: Incluye un segundo rango de corriente continua que optimiza aún más la precisión en las mediciones.
• Mediciones avanzadas: Dispone de un registrador de datos de corriente y voltaje mejorado para un análisis más detallado.
• Escalabilidad: Permite la conexión en paralelo de suministros N7900, alcanzando potencias de hasta 10 kW.
• Funciones dinámicas: Ofrece salidas dinámicas, formas de onda arbitrarias y capacidad de lista, además de una mejora de seis veces en el tiempo de programación de subida/bajada.
• Operación de dos cuadrantes: Agregue la funcionalidad completa de dos cuadrantes a cualquier fuente APS con la unidad disipadora de energía N7909A.
• Conectividad versátil: Compatible con LAN (LXI Core), USB y GPIB para una integración sencilla.

La arquitectura VersaPower del sistema proporciona un nuevo nivel de rendimiento en fuentes de alimentación, diseñada para enfrentar los desafíos más exigentes de las pruebas de energía. Este enfoque innovador ofrece especificaciones líderes en la industria y características integradas para satisfacer las demandas avanzadas de las pruebas ATE actuales.

Especificaciones clave:

• Número de salidas: 1
• Potencia total: 1000 o 2000 vatios
• Unidades de rack: 1 o 2
• Ondulación y ruido: 1 a 3 mVrms
• Conectividad: LAN, USB, GPIB

Con el sistema N7900, elevará el rendimiento de sus pruebas, capturando el perfil actual de su dispositivo bajo prueba (DUT) con una precisión sin igual, lo que le permitirá reducir tiempos y costos en el desarrollo de su ATE.